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一种提高碲化镉薄膜太阳电池测试准确性的激光刻划技术

摘要

本发明为一种提高碲化镉薄膜太阳电池测试准确性的激光刻划技术,公开了一种精准定义碲化镉薄膜太阳电池面积的方法,属于化合物半导体薄膜太阳电池的结构设计技术领域。通过用脉冲Nd:YAG激光对具有完整器件结构的CdTe薄膜太阳电池进行激光刻划,可消除金属电极边缘残余吸收层材料CdTe的存在引起入射光的横向收集导致电流虚高,同时刻消除边缘残余碲化镉对器件串联电阻并联电阻造成的影响,从而提供一种经济可行的精准定义碲化镉薄膜太阳电池面积从而得到更为可信的电池效率曲线之方法。

著录项

  • 公开/公告号CN108183144B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 四川大学;

    申请/专利号CN201711442471.8

  • 申请日2017-12-27

  • 分类号H01L31/0445(20140101);H01L31/0296(20060101);H01L31/18(20060101);B23K26/362(20140101);B23K26/402(20140101);B23K26/60(20140101);

  • 代理机构11732 北京睿智保诚专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人周新楣

  • 地址 610064 四川省成都市武侯区一环路南一段24号

  • 入库时间 2022-08-23 11:17:10

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