一种新的激光衍射粒度测试技术的研究

摘要

介绍了一种基于衍射的粒度测试新技术 ,其反演方法采用 Shifrin变换 ,接受器件采用线性 CCD。理论分析和对样品测试表明 :该法仅需要很少的预知信息 ;可测得的直方图分布形式为详细的粒径连续分布 ;峰值粒径测量精度提高 ,其相对误差在 3%左右。