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元件判定装置及元件判定方法

摘要

本发明目的在于提供一种能够对应于电子元件的形态来提高电子判定元件是否合格的精度的元件判定装置及元件判定方法。作为元件判定装置判定是否适合的对象的电子元件具有基准部,该基准部由与多个电极部不同的构件形成且在将电子元件载置于电路基板上时与该电路基板的上表面接触。元件判定装置具备:测定装置,对在基准部上设定的多个基准点的位置及在多个电极部分别设定的测定点的位置进行测定;平面计算部,基于多个基准点的位置来计算表示在电子元件被载置于电路基板上的情况下电路基板的上表面相对于元件主体的位置的基准平面;及是否适合判定部,基于基准平面与多个测定点的距离来判定电子元件是否适合。

著录项

  • 公开/公告号CN108702866B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社富士;

    申请/专利号CN201680081720.2

  • 发明设计人 石川信幸;田中克典;

    申请日2016-02-18

  • 分类号H05K13/04(20060101);H05K13/08(20060101);

  • 代理机构11219 中原信达知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人穆德骏;安翔

  • 地址 日本爱知县知立市

  • 入库时间 2022-08-23 11:16:56

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