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基于标准集成电路工艺低噪声单光子探测芯片及系统

摘要

本发明提供的是一种基于标准集成电路工艺低噪声单光子探测芯片及系统。其特征是:低噪声单光子探测系统由光源1、偏压电路2、单光子探测芯片3、信号处理系统4组成,其中单光子探测芯片3由正常模式运行的单光子雪崩二极管31、暗环境下运行的单光子雪崩二极管32以及雪崩事件检测电路阵列33组成。本发明可用于极微弱光的测量,可广泛用于激光雷达,DNA测序,量子密匙分配,以及医学成像等领域。

著录项

  • 公开/公告号CN109253807B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 传周半导体科技(上海)有限公司;

    申请/专利号CN201811182461.X

  • 申请日2018-10-11

  • 分类号G01J11/00(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 201306 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区临港新片区海洋一路333号1号楼

  • 入库时间 2022-08-23 11:16:47

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