芯片抗辐射能力的评测方法、装置及芯片

摘要

本发明提供一种芯片抗辐射能力的评测方法、装置及芯片。其中，芯片内部集成MBIST电路，该方法包括：通过向MBIST电路发送测试执行信号，触发MBIST电路执行读写操作；确定MBIST电路执行写操作完成，触发粒子束对芯片进行辐射；在辐射结束后，确定MBIST电路开始执行读操作，在MBIST电路执行读操作的过程中，获取芯片辐射后的存储数据，根据存储数据与预设数据中的不同的数据位，获取芯片的抗辐射能力。本发明提供的评测方法、装置及芯片方式灵活且电路结构简单，节约了评测开销。