首页> 中国专利> 一种PDMS掩蔽技术制备硅槽的方法

一种PDMS掩蔽技术制备硅槽的方法

摘要

本发明属于半导体制造工艺领域,涉及一种PDMS掩蔽技术制备硅槽的方法。步骤包括:制备具有PDMS掩蔽层的硅片基底、刻蚀硅槽和去除掩蔽层;在硅片基底的正面旋涂光敏PDMS,采用掩膜进行间隙曝光,后烘固化,光敏PDMS未曝光的部分被固化,光敏PDMS曝光部分保持原来状态;将未固化的PDMS用甲苯浸泡去除;将基片用异丙醇冲洗干净,后用氮气吹干,完成掩蔽层图形化;在硅片基底背面旋涂非光敏PDMS,烘干;将硅片基底放入35%‑45%的KOH溶液中刻蚀;将刻蚀完成的硅片基底放入浓硫酸中煮沸去除掩蔽层,得到硅槽。本发明采用PDMS作掩蔽层制备硅槽,其制作工艺简单、成本低、工艺重复性好,并且容易实现。

著录项

  • 公开/公告号CN108565214B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-09-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 大连理工大学;

    申请/专利号CN201810337391.4

  • 发明设计人 邹赫麟;王秋森;黎晨;杨正;

    申请日2018-04-09

  • 分类号H01L21/306(20060101);H01L21/308(20060101);

  • 代理机构21200 大连理工大学专利中心;

  • 代理人温福雪;侯明远

  • 地址 116024 辽宁省大连市甘井子区凌工路2号

  • 入库时间 2022-08-23 11:14:57

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号