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一种基于RC振荡器的片上温度检测方法

摘要

本发明公开了一种基于RC振荡器的片上温度检测方法,包括以下步骤:步骤S1:通过RC振荡器产生一定频率的时钟信号,所述时钟信号的频率随温度变化;步骤S2:通过计数器获取时钟信号的频率;步骤S3:CPU通过查表法得到当前时钟信号频率对应的温度值。与现有技术相比较,利用RC振荡器工作的温度特性,将温度的变化反映到振荡器输出时钟频率的变化,CPU通过读取频率计数值,就可以得到当前芯片内核的温度,从而无需额外在芯片中设置温度传感器,大大降低了温度传感器所占用的芯片面积,同时能够满足各种时钟控制的应用需求。

著录项

  • 公开/公告号CN109632117B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-09-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 杭州电子科技大学;

    申请/专利号CN201910015098.0

  • 发明设计人 樊凌雁;陈龙;袁志东;

    申请日2017-05-24

  • 分类号G01K7/00(20060101);H03K3/023(20060101);

  • 代理机构33233 浙江永鼎律师事务所;

  • 代理人陆永强

  • 地址 310018 浙江省杭州市下沙高教园区

  • 入库时间 2022-08-23 11:13:22

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