一种测量弱磁性La_1-xSr_xMnO₃外延薄膜层状磁结构的方法

摘要

本发明公开了一种测量弱磁性La_1‑xSr_xMnO₃外延薄膜层状磁结构的方法，先施加较大磁场对薄膜进行降温磁化，再施加弱的反向磁场扰动，通过在反向磁场扰动过程中薄膜磁矩随温度的变化规律来分析La_1‑xSr_xMnO₃外延薄膜的层状磁结构特征，以及不同层之间磁矩交换耦合作用的强弱。该方法简单易行，效率高，获得的测试结果可以用于分析薄膜层状结构的分布方向，薄膜内部由于应变导致的磁性不均匀性以及磁矩的非一致转动，相对于洛伦磁电镜、电子全息谱、磁圆二向色谱和极化中子反射等方法具有明显的测试优势。