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光谱光束轮廓叠对度量

摘要

一种光谱光束轮廓度量系统同时在大波长范围及大入射角AOI范围内检测测量信号。在一个方面中,将多波长照明光束重新整形成窄线形光束,所述窄线形光束被投射到叠对度量目标上,使得所述线形光束的方向与所述叠对度量目标的光栅结构的延展方向对准。所收集光沿一个方向根据AOI且沿另一方向根据波长而跨越检测器分散。每一检测器像素处的所测量信号与特定AOI及波长相关联。所述所收集光包含一级衍射光、零级衍射光或其组合。在一些实施例中,在所述检测器的单独区上检测一级衍射光及零级衍射光。

著录项

  • 公开/公告号CN108027568B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 科磊股份有限公司;

    申请/专利号CN201680052189.6

  • 申请日2016-09-22

  • 分类号

  • 代理机构北京律盟知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人张世俊

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 11:09:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-14

    授权

    授权

  • 2018-10-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):G03F7/20 申请日:20160922

    实质审查的生效

  • 2018-05-11

    公开

    公开

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