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自参考干涉仪、对准系统以及光刻设备

摘要

本发明公开了一种自参考干涉仪、对准系统以及光刻设备。该自参考干涉仪包括:具有相同起点和相同终点的第一光线传播路径和第二光线传播路径;沿第一光线传播路径方向依次设置有第一偏振分光棱镜和第一辅助棱镜;第一偏振分光棱镜的分光面与第一辅助棱镜的入光面平行设置;在第一光线传播路径的起点处设置有第二偏振分光棱镜和第二辅助棱镜;第二偏振分光棱镜的分光面与第二辅助棱镜的入光面平行设置;在第一光线传播路径的终点处设置有第三偏振分光棱镜;在第一光线传播路径和/或第二光线传播路径上设置有光程补偿单元。与现有的自参考干涉仪相比,本发明实施例提供的自参考干涉仪制作难度低,装调难度低。

著录项

  • 公开/公告号CN110095880B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海微电子装备(集团)股份有限公司;

    申请/专利号CN201810095803.8

  • 发明设计人 王诗华;

    申请日2018-01-31

  • 分类号G02B27/28(20060101);G03F9/00(20060101);

  • 代理机构11332 北京品源专利代理有限公司;

  • 代理人孟金喆

  • 地址 201203 上海市浦东新区自由贸易试验区张东路1525号

  • 入库时间 2022-08-23 11:08:33

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-07

    授权

    授权

  • 2019-08-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02B27/28 申请日:20180131

    实质审查的生效

  • 2019-08-06

    公开

    公开

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