基于改进粒子群算法的数字微流控芯片故障检测方法及系统

摘要

本发明涉及一种基于改进粒子群算法的数字微流控芯片故障检测方法及系统，属于微数字微流控芯片故障检测领域，为了解决现有技术的数字微流控芯片故障检测方法故障定位时间较长的缺点，而提出一种基于改进粒子群算法的数字微流控芯片故障检测方法，包括：获取测试液滴的起始位置和终点位置；构建禁忌表；构建至少一个粒子群，为每个粒子群构建与其对应的位置矩阵；确定粒子群算法中每个粒子的速度向量，直至所有相邻电极均被遍历；根据公式更新粒子的位置序列；计算每个粒子的位置向量的适应度，并分别确定每个种群当前最短路径以及全局最短路径；重复上述步骤，直至达到预定的迭代次数，输出全局最短路径。本发明适用于数字微流控芯片的故障检测。