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一种利用CdTe量子点测定齐帕特罗的方法

摘要

本发明公开一种利用CdTe量子点测定齐帕特罗的方法,包括:制备CdTe‑齐帕特罗抗原;制备包被有齐帕特罗抗体的酶标板;向酶标板各孔加入系列浓度的齐帕特罗标准溶液和CdTe‑齐帕特罗抗原溶液,同时设置空白对照组,温育,洗涤;测定酶标板中各孔的荧光强度F,空白对照组的荧光强度F0,计算抑制率I=(F–F0)/(Fmax‑F0),以抑制率为纵坐标,以齐帕特罗标准溶液浓度的对数为横坐标,绘制标准曲线;将待测样品与CdTe‑齐帕特罗抗原溶液加入酶标板,温育、洗涤,测定荧光强度,代入标准曲线,即得待测样品中齐帕特罗的浓度。本发明利用CdTe量子点测定齐帕特罗,检测成本较低,检测时间短,灵敏度高,特异性好。

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法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-04

    授权

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  • 2018-07-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/64 申请日:20171212

    实质审查的生效

  • 2018-06-12

    公开

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