基于统计的裸芯性能被延迟直到封装之后的非易失性存储器测试

摘要

这里所述的各种实施例包括用于封装非易失性存储器的系统、方法和/或装置。在一个方面中，方法包括，根据对应于一组非易失性存储器裸芯的预定的基准和预定统计裸芯性能信息，从该组非易失性存储器裸芯选择多个非易失性存储器裸芯，在所述多个非易失性存储器裸芯上已经将预定的裸芯级和子裸芯级测试延迟直到封装之后。方法还包括将所选择的多个非易失性存储器裸芯封装到存储器装置中。在所述封装之后，方法还包括在所述存储器装置中的多个非易失性存储器裸芯上进行一组测试以识别在所述存储器装置中的非易失性存储器裸芯中的满足预定的有效性基准的存储器的各个单元，其中所进行的该组测试包括被延迟的预定的裸芯级和子裸芯级测试。