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多能谱X射线成像系统和用于利用多能谱X射线成像系统对待测物品进行物质识别的方法

摘要

本发明公开了一种用于利用多能谱X射线成像系统对待测物品进行物质识别的方法,包括:获得所述待测物品在N个能区中的透明度值组成的透明度相关向量,其中N大于2;计算所述透明度相关向量与所述系统中存储的多种物品在多种厚度的情况下在所述N个能区中的N个透明度均值组成的透明度相关向量之间的距离;以及将所述待测物品识别为与最小距离相对应的物品。本发明基于多能谱X射线成像系统,通过对多能谱物质识别问题的分析,提出了一种物质识别的方法。相对传统双能X射线系统,多能谱成像理论上可以显著提高系统的物质识别能力,特别是在安检应用领域,物质识别能力的提升对于毒品爆炸物等违禁品的查验具有重要意义。

著录项

  • 公开/公告号CN108169255B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-06-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 同方威视技术股份有限公司;

    申请/专利号CN201611120598.3

  • 申请日2016-12-07

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人杨姗

  • 地址 100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层

  • 入库时间 2022-08-23 11:03:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-30

    授权

    授权

  • 2018-07-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/04 申请日:20161207

    实质审查的生效

  • 2018-06-15

    公开

    公开

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