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公开/公告号CN107045977B
专利类型发明专利
公开/公告日2020-06-30
原文格式PDF
申请/专利权人 朗姆研究公司;
申请/专利号CN201710066218.0
发明设计人 谭忠魁;张依婷;吴垠;徐晴;符谦;山口叶子;崔麟;
申请日2017-02-06
分类号
代理机构上海胜康律师事务所;
代理人李献忠
地址 美国加利福尼亚州
入库时间 2022-08-23 11:03:27
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-06-30
授权
2017-09-08
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/3065 申请日:20170206
实质审查的生效
2017-08-15
公开
机译: 连续等离子体中的原子层蚀刻
机译: 用于关键尺寸控制的单个等离子体室中的原子层沉积和蚀刻
机译: 单个等离子体室中的原子层沉积和蚀刻,用于关键尺寸控制
机译:原位监测使用氢等离子体和氟基团的原子层蚀刻氮化硅的原子层蚀刻
机译:电感耦合等离子体中晶片尺寸均匀性蚀刻原子层蚀刻的后果
机译:临界原子级处理技术:远程等离子体增强原子层沉积和原子层蚀刻
机译:在近距离蚀刻工具中的等离子体原子层蚀刻的研制
机译:在感应耦合等离子体反应器中研究碳氟化合物沉积和蚀刻对硅和二氧化硅蚀刻工艺的影响(使用三氟化甲基),并开发了用于研究等离子体与表面相互作用机理的反应离子束系统。
机译:腔室壁对使用循环Ar / C4F8等离子体的氟碳辅助的SiO2原子层蚀刻的影响
机译:在基于SF6的等离子体中通过低温等离子体增强的原子层沉积法生长的氮化铝掩模层的等离子体蚀刻特性
机译:用于监测氯 - 氦等离子体中多晶硅的等离子体蚀刻期间的蚀刻均匀性的光学诊断仪器。