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计量目标、方法和设备、计算机程序和光刻系统

摘要

公开了一种包括用于套刻和焦点的测量的组合目标的衬底。该目标包括:包括第一周期性结构的第一层;以及包括覆盖第一周期性结构的第二周期性结构的第二层。该目标具有结构不对称性,该结构不对称性包括由第一周期性结构与第二周期性结构之间的无意失配产生的结构不对称分量、由第一周期性结构与第二周期性结构之间的有意位置偏移产生的结构不对称分量、以及取决于在组合目标在衬底上的曝光期间的焦点设置的焦点相关结构不对称分量。还公开了一种用于形成这样的目标的方法以及相关联的光刻和计量设备。

著录项

  • 公开/公告号CN108292108B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-06-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ASML荷兰有限公司;

    申请/专利号CN201680069224.5

  • 发明设计人 W·T·特尔;F·斯塔尔斯;

    申请日2016-11-07

  • 分类号

  • 代理机构北京市金杜律师事务所;

  • 代理人王茂华

  • 地址 荷兰维德霍温

  • 入库时间 2022-08-23 11:03:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-26

    授权

    授权

  • 2018-08-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G03F7/20 申请日:20161107

    实质审查的生效

  • 2018-07-17

    公开

    公开

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