首页> 中国专利> 一种垂直结构GaN基增强型场效应晶体管及其制造方法

一种垂直结构GaN基增强型场效应晶体管及其制造方法

摘要

本发明公开了一种垂直结构GaN基增强型场效应晶体管及其制造方法。该器件包括衬底层(1)、缓冲层(2)、非故意掺杂GaN(i‑GaN)外延层(3)、n‑AlGaN外延层(4)、n‑AlN导电层(5)与n‑AlN氧化层(6)、i‑GaN再生长层(7)、AlGaN再生长层(8)、栅极氧化层(9)、设置于(8)上的源极(10)、设置于(4)上的漏极(11)、设置于(9)上的栅极(12)。器件工作时,漏极电流须经过未氧化的n型AlN导电层流向源极,形成垂直导电结构的增强型器件。本发明具有击穿电压高、输出电流密度大、漏电流小等优点,适合于高功率电力电子领域应用。

著录项

  • 公开/公告号CN106449406B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-05-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 湖南理工学院;

    申请/专利号CN201610366645.6

  • 发明设计人 文于华;刘阳;

    申请日2016-05-30

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 414000 湖南省岳阳市奇家岭学院路439号

  • 入库时间 2022-08-23 10:58:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-12

    授权

    授权

  • 2017-07-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/336 申请日:20160530

    实质审查的生效

  • 2017-02-22

    公开

    公开

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