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衍射光学元件和干涉测量方法

摘要

提供了一种衍射光学元件(50),具有基板(52)和布置在其上的衍射结构图案(54)。所述衍射结构图案构造为将辐射至其上的平面或球面输入波(42)转换为:1)至少四个分离的输出波,其中,所述输出波中的至少一个是非球面波,所述输出波中的至少另外一个是球面波(58;70),所述输出波中的至少另外两个分别是平面波(60)或球面波(72,74);2)至少三个分离波,其中的至少一个是非球面波,另外两个是球面或平面波;3)至少三个球面波。衍射光学元件用在干涉测量方法和装置中,用于确定光学元件的光学表面的实际形状与预期形状的偏离。光学元件制造成具有光学表面,用上述方法和装置测量的光学表面与预期形状的偏离位于预定水平之下。

著录项

  • 公开/公告号CN107816939B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-04-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 卡尔蔡司SMT有限责任公司;

    申请/专利号CN201711103826.0

  • 发明设计人 J.赫茨勒;

    申请日2013-09-27

  • 分类号

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人张邦帅

  • 地址 德国上科亨

  • 入库时间 2022-08-23 10:55:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-04-14

    授权

    授权

  • 2018-04-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B9/02 申请日:20130927

    实质审查的生效

  • 2018-04-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 9/02 申请日:20130927

    实质审查的生效

  • 2018-03-20

    公开

    公开

  • 2018-03-20

    公开

    公开

  • 2018-03-20

    公开

    公开

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