一种实现可变LET值的系统功能中断截面自适应拟合方法

摘要

一种实现可变LET值的系统功能中断截面自适应拟合方法，包括在饱和LET阈值范围内，对电路内部电路模块防护设计架构下的任意LET值系统功能中断截面拟合以及针对系统级防护架构下的定点LET值系统功能中断截面拟合两部分；两部分内容均利用已知试验数据，在饱和LET阈值内，拟合得到指定LET值下的系统功能中断截面值，减少通过单粒子辐照试验获取数据的依赖性，可缓解试验机时供需紧张问题，优化了单粒子试验过程，提升了系统抗SEU评估效率。