一种提高Y波导器件偏振性能测量准确性的方法

摘要

本发明提供的是一种提高Y波导器件偏振性能测量准确性的方法。首先将待测Y波导的输入保偏尾纤与起偏器保偏尾纤连接点、Y波导的输出保偏尾纤与检偏器保偏尾纤连接点的对轴角度同时设定为0°，得到第一次的偏振参数测量结果；然后将上述两个连接点的对轴角度同时调节为90°，得到第二次的测量结果；最后计算两次测量结果的平均值，作为最终测量值。本发明中的测量方法无需更改测量光路结构，具有简单有效、易于实现等特点，有助于消除待测光路中起偏器/检偏器自身结构及性能缺陷引入的测量误差，从而进一步提升测量准确性。该方法可广泛用于Y波导器件芯片消光比等参数的高精度测量。