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一种集成了TFET的FINFET器件及其制备方法

摘要

本发明提供了一种集成了TFET的FINFET器件及其制备方法,在鳍的两个端部区域分别形成N型漏区和由顶部P型掺杂区和底部N型掺杂区构成的源区,从而由源区的底部N型掺杂区、漏区、沟道区、位于鳍结构的侧壁的高K介质层和位于鳍结构的侧壁的栅极共同构成MOS FINFET器件;以及由源区的顶部P型掺杂区、漏区、沟道区、位于鳍结构的顶部的高K介质层和位于鳍结构的顶部的栅极共同构成TFET器件,本发明实现了TFET与FINFET器件的集成,节约了成本。

著录项

  • 公开/公告号CN106783850B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-11-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201611077082.5

  • 发明设计人 孙德明;

    申请日2016-11-30

  • 分类号

  • 代理机构上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人吴世华

  • 地址 201210 上海市浦东新区张江高斯路497号

  • 入库时间 2022-08-23 10:43:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-11-22

    授权

    授权

  • 2017-06-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L27/07 申请日:20161130

    实质审查的生效

  • 2017-06-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 27/07 申请日:20161130

    实质审查的生效

  • 2017-05-31

    公开

    公开

  • 2017-05-31

    公开

    公开

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