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具有记忆胞的元件及具有记忆胞阵列的元件的制造方法

摘要

一种具有二位元浮置闸极记忆胞的元件的制造方法,首先提供一基底,且在基底上的记忆胞区中形成一复合电荷储存膜层。接着,在复合电荷储存膜层上形成一保护衬里材料层。其中,记忆胞区更包括在基底中的埋入式扩散区上形成氧化元件,以及在复合电荷储存膜层上形成多晶硅间隙壁,且此多晶硅间隙壁倚靠在此氧化元件的侧壁上。此外,更包括以多晶硅间隙壁为罩幕,进行一蚀刻制程穿过横向两氧化元件间的复合电荷储存膜层以形成一隔离沟渠,并在沟渠中形成一绝缘体。然后,形成一闸极导体并覆盖该复合电荷储存结构,且填满两氧化元件间的隔离沟渠。

著录项

  • 公开/公告号CN100353527C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2007-12-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 旺宏电子股份有限公司;

    申请/专利号CN200510069990.5

  • 发明设计人 潘锡树;黄仲仁;

    申请日2005-05-11

  • 分类号

  • 代理机构北京中原华和知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人寿宁

  • 地址 中国台湾

  • 入库时间 2022-08-23 08:59:58

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-01

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L21/8246 授权公告日:20071205 终止日期:20190511 申请日:20050511

    专利权的终止

  • 2007-12-05

    授权

    授权

  • 2007-12-05

    授权

    授权

  • 2006-02-08

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-02-08

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-12-14

    公开

    公开

  • 2005-12-14

    公开

    公开

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