低功耗加权伪随机LOC延迟测试方法、系统、设备及存储介质

摘要

本发明提供了一种低功耗加权伪随机LOC延迟测试方法、系统、设备及存储介质；所述测试方法包括：建立扫描森林；将由同一个多路输出选择器控制的全部扫描链均设置在相同的扫描链子集中；根据可测性增益函数分别对每个所述扫描链子集的测试使能信号进行权重赋值；应用所述扫描森林进行伪随机测试，并输出伪随机测试向量；以及根据所述伪随机测试向量计算得到伪随机测试结果。采用本发明技术故障覆盖率高，可获得比传统的方法高出多达20％的覆盖率；硬件开销低，更不会带来额外的延迟开销、结构简单、便于工业界广泛使用，易于嵌入现有的EDA工具中，能够支持伪随机测试和确定自测试；与确定自测试结合可有效降低测试数据容量。