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低深宽比的电介质几何相位超表面材料及其结构优化方法

摘要

本发明公开的低深宽比的电介质几何相位超表面结构材料及其结构优化方法,所述的电介质几何相位超表面结构材料包括基底、基底上的反射层、反射层上的多光束干涉层、以及若干尺寸一致的电介质纳米砖呈周期性排布于多光束干涉层上所构成的电介质纳米砖阵列;所述的电介质纳米砖阵列用来接收垂直入射的圆偏振光,并通过调节各电介质纳米砖的方向来调节出射光的位相。本发明电介质几何相位超表面结构材料的深宽比降至传统的透射式超表面材料的一半,约1.7,从而可减轻对加工工艺的要求,使器件的成品率和量产得到保障。

著录项

  • 公开/公告号CN108490509B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-10-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉大学;

    申请/专利号CN201810307417.0

  • 申请日2018-04-08

  • 分类号G02B1/00(20060101);G02F1/01(20060101);

  • 代理机构42222 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人张火春

  • 地址 430072 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学

  • 入库时间 2022-08-23 10:40:56

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-10-11

    授权

    授权

  • 2018-09-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02B 1/00 申请日:20180408

    实质审查的生效

  • 2018-09-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02B 1/00 申请日:20180408

    实质审查的生效

  • 2018-09-04

    公开

    公开

  • 2018-09-04

    公开

    公开

  • 2018-09-04

    公开

    公开

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