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用于通孔填充的交替电镀和蚀刻过程

摘要

本发明提供了一种填充衬底上通孔的方法。通孔是一个具有上边缘、下边缘和内表面的连续通道。在一个实施例中,该方法包括步骤(a)‑(d)。在步骤(a),在衬底上沉积导电材料,从而在边缘周围和内表面上沉积一层导电材料层。在步骤(b),蚀刻沉积的导电材料。特别地,蚀刻步骤选择性地去除更多沉积在边缘处的导电材料,相对于沉积在通道内表面的中间部分处的导电材料来说。在步骤(c),通过在剩余沉积物上沉积导电材料,来生长剩余沉积物。执行步骤(b)和(c)一次或多次,直到通道中间部分由导电材料形成的桥密封住。在步骤(d),进一步在衬底上沉积导电材料,从而完全填充通孔。

著录项

  • 公开/公告号CN107820731B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-09-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 香港应用科技研究院有限公司;

    申请/专利号CN201780000149.1

  • 发明设计人 孙耀峰;徐莎;丘树坚;

    申请日2017-03-16

  • 分类号

  • 代理机构深圳新创友知识产权代理有限公司;

  • 代理人江耀纯

  • 地址 中国香港新界沙田香港科学园科技大道东二号光电子中心5楼

  • 入库时间 2022-08-23 10:40:39

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-09-17

    授权

    授权

  • 2018-04-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):H05K3/42 申请日:20170316

    实质审查的生效

  • 2018-04-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):H05K 3/42 申请日:20170316

    实质审查的生效

  • 2018-03-20

    公开

    公开

  • 2018-03-20

    公开

    公开

  • 2018-03-20

    公开

    公开

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