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具有内建测试驱动器的非易失性逻辑阵列

摘要

一种片上系统(SoC)提供被配置为n行乘m列位单元的非易失性存储器阵列。每个位单元被配置以存储数据位。m条位线的每条耦合至m列位单元的相应一列。m个写驱动器的每个耦合至m条位线的相应一条,其中该m个驱动器的每个包括写1电路和写0电路。所述m个驱动器可操作以响应于耦合到写1电路的第一控制信号将全1写入位单元的行中以及响应于耦合到写0电路的第二控制信号将全0写入位单元的行中。

著录项

  • 公开/公告号CN103971742B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-08-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 德克萨斯仪器股份有限公司;

    申请/专利号CN201410085363.X

  • 发明设计人 S·C·巴特林;S·康纳;

    申请日2014-01-28

  • 分类号G11C16/06(20060101);G11C16/26(20060101);G11C29/12(20060101);

  • 代理机构11245 北京纪凯知识产权代理有限公司;

  • 代理人赵蓉民

  • 地址 美国德克萨斯州

  • 入库时间 2022-08-23 10:39:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-30

    授权

    授权

  • 2016-03-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G11C16/06 申请日:20140128

    实质审查的生效

  • 2016-03-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G11C 16/06 申请日:20140128

    实质审查的生效

  • 2014-08-06

    公开

    公开

  • 2014-08-06

    公开

    公开

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