公开/公告号CN107036717B
专利类型发明专利
公开/公告日2019-07-26
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院微电子研究所;
申请/专利号CN201710278547.1
申请日2017-04-25
分类号
代理机构北京华沛德权律师事务所;
代理人房德权
地址 100029 北京市朝阳区北土城西路3号
入库时间 2022-08-23 10:36:32
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2019-07-26
授权
授权
2017-09-05
实质审查的生效 IPC(主分类):G01J5/12 申请日:20170425
实质审查的生效
2017-09-05
实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 5/12 申请日:20170425
实质审查的生效
2017-08-11
公开
公开
2017-08-11
公开
公开
2017-08-11
公开
公开
查看全部
机译: 温度传感器装置和使用该装置的辐射温度计,温度传感器装置的制造方法,使用光致抗蚀剂膜的多层薄膜热电堆和使用该热电堆的辐射温度计以及多层薄膜热电堆的制造方法
机译: 自测试电路和一种通过信号路径检测信号完整性的方法
机译: 热电堆红外传感器,热电堆红外传感器阵列及其制造方法