首页> 中国专利> 用于定位检测金属杂质的金属探测仪及其金属定位方法

用于定位检测金属杂质的金属探测仪及其金属定位方法

摘要

本发明涉及一种金属探测仪,特别涉及一种用于定位检测金属杂质的金属探测仪及其金属定位方法。本发明包括信号发射电路、多路信号接收电路、信号处理电路、报警执行电路,信号发射电路用于接收来自信号处理电路发出的信号,从而在金属探测仪表面形成电磁场,信号发射电路输出发射信号至信号接收电路的信号输入端;每一路信号接收电路均与信号处理电路之间双向通信连接;信号处理电路用于判断每一路信号接收电路发送来的发射信号是否存在异常,报警执行电路用于报警或驱动金属检出装置剔除金属杂质。本发明能够确定金属杂质的具体位置,方便剔除机构准确剔除金属杂质,确保工业生产的连续和金属杂质剔除的自动化。

著录项

  • 公开/公告号CN106646627B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-05-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 合肥通用机械研究院有限公司;

    申请/专利号CN201611258264.2

  • 发明设计人 张继红;殷建国;

    申请日2016-12-30

  • 分类号

  • 代理机构合肥和瑞知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人王挺

  • 地址 230031 安徽省合肥市蜀山区长江西路888号

  • 入库时间 2022-08-23 10:33:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-05-31

    授权

    授权

  • 2019-03-29

    著录事项变更 IPC(主分类):G01V 3/11 变更前: 变更后: 申请日:20161230

    著录事项变更

  • 2019-03-29

    著录事项变更 IPC(主分类):G01V 3/11 变更前: 变更后: 申请日:20161230

    著录事项变更

  • 2017-06-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01V3/11 申请日:20161230

    实质审查的生效

  • 2017-06-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01V3/11 申请日:20161230

    实质审查的生效

  • 2017-06-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01V 3/11 申请日:20161230

    实质审查的生效

  • 2017-05-10

    公开

    公开

  • 2017-05-10

    公开

    公开

  • 2017-05-10

    公开

    公开

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