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采用原子层沉积工艺在基片上形成二氧化硅层的方法

摘要

本发明公开了一种用催化剂辅助的原子层沉积(ALD)工艺的改进方法,同时还公开了相关的吹扫方法和吹扫程序。所述改进方法通过采用具有至少两个硅原子的硅化合物作为第一反应物,或者采用一种脂族叔胺作为催化剂组分,也可以二者结合使用而在一半导体基片上形成一具有优良性能的二氧化硅层。

著录项

  • 公开/公告号CN100343960C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2007-10-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三星电子株式会社;

    申请/专利号CN03133019.3

  • 发明设计人 李周远;秋冈秀;朴哉彦;梁钟虎;

    申请日2003-06-30

  • 分类号H01L21/316(20060101);H01L21/324(20060101);

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人范明娥;张平元

  • 地址 韩国京畿道

  • 入库时间 2022-08-23 08:59:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2007-10-17

    授权

    授权

  • 2005-08-31

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-03-10

    公开

    公开

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