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一种SICM的相位调制成像模式扫描装置和方法

摘要

本发明涉及一种SICM的相位调制成像模式扫描装置,包括信号发生器、锁相放大器、膜片钳放大器、控制器、探针、XY纳米平台和Z向纳米压电陶瓷;所述信号发生器、膜片钳放大器、锁相放大器、控制器依次连接;所述信号发生器与锁相放大器连接,膜片钳放大器与探针连接;方法包括:信号发生器输出两路交流信号分别至锁相放大器、膜片钳放大器;调节膜片钳放大器的补偿电容值;锁相放大器提取电流分量,并将幅值反馈至控制器,控制器根据该幅值实时控制探针高度,实现样品的扫描。本发明仅提取某一频率下的交流分量作为反馈值,因此能克服直流模式下直流漂移、易受电气噪声影响等缺点;具有比传统交流模式更高的调制频率,因此可实现加快扫描的目的。

著录项

  • 公开/公告号CN105301290B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-01-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院沈阳自动化研究所;

    申请/专利号CN201410357300.5

  • 申请日2014-07-24

  • 分类号G01Q60/44(20100101);

  • 代理机构21002 沈阳科苑专利商标代理有限公司;

  • 代理人许宗富;周秀梅

  • 地址 110016 辽宁省沈阳市东陵区南塔街114号

  • 入库时间 2022-08-23 10:24:49

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-22

    授权

    授权

  • 2016-03-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01Q60/44 申请日:20140724

    实质审查的生效

  • 2016-03-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01Q 60/44 申请日:20140724

    实质审查的生效

  • 2016-02-03

    公开

    公开

  • 2016-02-03

    公开

    公开

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