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具备三个以上的电极的芯片电子部件检查挑选装置

摘要

公开了具备三个以上的电极的芯片电子部件检查挑选装置。包括:基台;轴支承于基台的芯片电子部件输送圆盘(具有长方形的开口部、对于具备三个以上的电极的长方体形状的芯片电子部件进行收容的透孔以长方形的开口部的长边排列在该输送圆盘的半径方向上的配置来形成);把芯片电子部件供给收容于该输送圆盘的透孔的芯片电子部件供给收容部(具备:将芯片电子部件供给输送圆盘的透孔的位置、在芯片电子部件的侧面与透孔的长方形开口部的侧面相对的位置暂时地进行立设收容于输送圆盘的透孔的单元;将芯片电子部件在把具有其最大面积的面设为底面的状态下配置于透孔内的单元);检查芯片电子部件的电特性的电特性检查部;挑选检查过的芯片电子部件的挑选部。

著录项

  • 公开/公告号CN104849577B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-01-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 慧萌高新科技有限公司;

    申请/专利号CN201510086899.8

  • 发明设计人 铃木卓司;泽伸生;萩田雅也;

    申请日2015-02-17

  • 分类号

  • 代理机构中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人张涛

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 10:23:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-15

    授权

    授权

  • 2016-12-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/00 申请日:20150217

    实质审查的生效

  • 2016-12-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/00 申请日:20150217

    实质审查的生效

  • 2015-08-19

    公开

    公开

  • 2015-08-19

    公开

    公开

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