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电子束诱导二次谐波的超分辨显微系统及测试方法

摘要

电子束诱导二次谐波的超分辨显微系统及测试方法,其中,至少设有真空腔室,所述真空腔室的两侧分别设置有入光窗口和出光窗口;该系统还包括激光器、第一反射镜、第二反射镜、基频滤光镜和探测器,所述激光器与第一反射镜位于所述入光窗口一侧,所述第二反射镜、基频滤光镜与探测器位于所述出光窗口一侧;所述真空腔室内部设置有扫描电子显微镜、扫描样品台、样品。本发明提供的电子束诱导二次谐波的超分辨显微系统及测试方法,在纳米分辨率内得到样品材料的载流子成像分布,可同时与样品的形貌特征进行对比,在同一测试环境中一次性实现,无需对样品进行移动,得出载流子的产生、分离和输运的时间分辨特性。

著录项

  • 公开/公告号CN105675639B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-12-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201410663318.8

  • 发明设计人 张跃钢;倪卫海;蔺洪振;

    申请日2014-11-19

  • 分类号G01N23/2204(20180101);

  • 代理机构44304 深圳市铭粤知识产权代理有限公司;

  • 代理人孙伟峰;杨林

  • 地址 215123 江苏省苏州市苏州工业园区若水路398号

  • 入库时间 2022-08-23 10:22:34

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-12-25

    授权

    授权

  • 2016-07-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/22 申请日:20141119

    实质审查的生效

  • 2016-07-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/22 申请日:20141119

    实质审查的生效

  • 2016-06-15

    公开

    公开

  • 2016-06-15

    公开

    公开

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