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用于纳米线CMOS技术的用于多栅极功函数的技术

摘要

在一个方面中,提供了一种形成具有多个晶体管的CMOS器件的方法,多个晶体管具有不同的Vt,该方法包括:在晶片上形成纳米线和焊盘,其中纳米线被悬置在晶片的氧化物层上方的变化高度处;以及通过如下方式形成至少部分地围绕每个纳米线的一部分的晶体管的栅极堆叠:i)在纳米线周围并在纳米线下方的晶片上沉积保形栅极电介质;ii)在纳米线周围并在纳米线下方的晶片上的保形栅极电介质上沉积保形功函数金属,其中基于纳米线在氧化物层上方悬置的变化的高度而改变沉积在纳米线周围的保形功函数金属的量;以及iii)在纳米线周围并在纳米线下方的晶片上的保形功函数金属上沉积保形多晶硅层。

著录项

  • 公开/公告号CN106024716B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-11-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 国际商业机器公司;

    申请/专利号CN201610179034.0

  • 申请日2016-03-25

  • 分类号

  • 代理机构北京市金杜律师事务所;

  • 代理人酆迅

  • 地址 美国纽约阿芒克

  • 入库时间 2022-08-23 10:21:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-11-23

    授权

    授权

  • 2016-11-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/8238 申请日:20160325

    实质审查的生效

  • 2016-11-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/8238 申请日:20160325

    实质审查的生效

  • 2016-10-12

    公开

    公开

  • 2016-10-12

    公开

    公开

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