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一种MOS晶体管NBTI效应R-D模型参数提取方法

摘要

本发明公开了一种MOS晶体管NBTI效应R‑D模型参数提取方法,包括如下步骤:线性变换确定拟合区间步骤:对测试数据的坐标系进行转换,并根据坐标轴的线性趋势选择曲线拟合区间;粗略提取模型参数所在范围步骤:设置待拟合的模型参数,将R‑D模型的非线性曲线利用线性变换转化为线性曲线,将线性曲线按线性拟合后得到方程组,解方程组得到模型参数的第一组解;调整模型参数,再得到模型参数的第二组解;由参数的两组解确定每个参数的范围;精确提取步骤:利用遗传算法进行参数优化,确定目标函数,再由每个模型参数已经得到的范围设定约束条件,最后执行算法计算得到模型参数的精确值。

著录项

  • 公开/公告号CN105760593B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-11-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华东师范大学;

    申请/专利号CN201610082271.5

  • 发明设计人 李小进;王燕玲;曾严;石艳玲;

    申请日2016-02-05

  • 分类号

  • 代理机构上海麦其知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人董红曼

  • 地址 200062 上海市普陀区中山北路3663号

  • 入库时间 2022-08-23 10:20:18

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-11-09

    授权

    授权

  • 2016-08-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20160205

    实质审查的生效

  • 2016-08-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 17/50 申请日:20160205

    实质审查的生效

  • 2016-07-13

    公开

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  • 2016-07-13

    公开

    公开

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