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公开/公告号CN1307689C
专利类型发明授权
公开/公告日2007-03-28
原文格式PDF
申请/专利权人 先进微装置公司;
申请/专利号CN02824976.3
发明设计人 D·H·琼;
申请日2002-12-11
分类号H01L21/266(20060101);H01L21/8238(20060101);
代理机构11245 北京纪凯知识产权代理有限公司;
代理人戈泊;程伟
地址 美国加利福尼亚州
入库时间 2022-08-23 08:59:18
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2007-03-28
授权
2005-06-08
实质审查的生效
2005-04-06
公开
机译: 用于使半导体器件结构的晶体管沟道应变的注入工艺以及具有应变晶体管沟道的半导体器件
机译: 精细图案形成方法,精细沟道晶体管和使用其的精细沟道发光晶体管形成方法
机译: 单独优化的N沟道和CMOS工艺使用可移动的侧壁隔离层实现P沟道晶体管的性能
机译:N沟道碳纳米管使能的垂直场效应晶体管,其溶液沉积有基于ZnO纳米颗粒的沟道层
机译:具有溶液沉积的ZnO纳米粒子基沟道层的N沟道碳纳米管使能垂直场效应晶体管
机译:高性能InP / InGaAs共集成的变质异质结构双极和场效应晶体管,具有伪晶基发射极隔离层和沟道层
机译:高k隔离层和负电容对双栅极无结晶体管的影响,可改善短沟道抗扰度和可靠性
机译:基于N沟道InGaAsP-InP的倒置通道技术器件(ICT)的设计,制造和表征,用于光电集成电路(OEIC):双异质结光电开关(DOES),异质结场效应晶体管(HFET),双极倒置沟道场-效应晶体管(BICFET)和双极型反向沟道光电晶体管(BICPT)。
机译:单元晶体管耦合:用p沟道和n沟道FET记录钾电流的研究
机译:基于p沟道有机和n沟道金属氧化物晶体管的混合互补电路,载流子迁移率高达10 cm2 / Vs
机译:InxGa1-xsb沟道p-金属氧化物半导体场效应晶体管:应变和异质结构设计的影响