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TFT-LCD彩膜玻璃基板的检测和修复方法及其系统

摘要

本发明提供了一种TFT‑LCD彩膜玻璃基板的检测和修复方法及其系统,其中该方法包括:在修复设备中输入产品的无缺陷信息以及对应每种缺陷的修复说明和修复程序;对彩膜玻璃基板进行检测,并将检测到存在缺陷的彩膜玻璃基板与修复设备中的产品的无缺陷信息进行对比,以得出缺陷的位置及面积信息;根据缺陷的位置及面积信息并结合修复说明和修复程序执行修复操作。本发明提供的彩膜玻璃基板的检测和修复方法及其系统,通过修复设备可以自行对彩膜玻璃基板进行检测和修复,相较于传统的通过人工进行检测判定、研磨修复的方法来讲,大大降低了人力成本,同时还可以提高产品的质量和生产效率,保障产品的质量稳定性。

著录项

  • 公开/公告号CN105242423B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-10-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉华星光电技术有限公司;

    申请/专利号CN201510769372.5

  • 发明设计人 徐海乐;李启明;伊文超;吴利峰;

    申请日2015-11-11

  • 分类号G02F1/13(20060101);

  • 代理机构44280 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人袁江龙

  • 地址 430070 湖北省武汉市东湖开发区高新大道666号生物城C5栋

  • 入库时间 2022-08-23 10:19:28

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-10-19

    授权

    授权

  • 2016-02-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02F1/13 申请日:20151111

    实质审查的生效

  • 2016-02-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02F 1/13 申请日:20151111

    实质审查的生效

  • 2016-01-13

    公开

    公开

  • 2016-01-13

    公开

    公开

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