首页> 中国专利> 一种断层和裂缝发育密度、均匀性以及组合样式评价方法

一种断层和裂缝发育密度、均匀性以及组合样式评价方法

摘要

本发明涉及油气田勘探开发领域,尤其是一种断层和裂缝发育密度、均匀性以及组合样式评价方法。发明通过对断层和裂缝的数据化,在点充填的基础上,选定合适的网格单元边长,设计了断层和裂缝发育密度、均匀性以及组合样式的评价模型,实现了断层和裂缝发育密度、均匀性以及组合样式的定量计算。本发明对于断层和裂缝参数的统计计算、野外地质素描图的处理等多个方面具有较高的实用价值,并且预测成本低廉、可操作性强,能大量减少人力的支出。

著录项

  • 公开/公告号CN106443782B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-10-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国地质大学(北京);

    申请/专利号CN201610835609.X

  • 申请日2016-09-20

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 100083 北京市海淀区学院路29号中国地质大学(北京)能源学院

  • 入库时间 2022-08-23 10:19:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-10-09

    授权

    授权

  • 2017-03-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01V1/30 申请日:20160920

    实质审查的生效

  • 2017-03-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01V 1/30 申请日:20160920

    实质审查的生效

  • 2017-02-22

    公开

    公开

  • 2017-02-22

    公开

    公开

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