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一种薄层材料方块电阻和连接点接触电阻测试方法

摘要

本发明涉及一种薄层材料方块电阻和连接点接触电阻测试方法,包括:在薄层材料的表面安装至少四个电极;对所述电极之间的电阻进行测量;根据理论模型,从测量的所述电极之间的电阻、和所述电极之间的距离计算所述薄层材料的方块电阻和电极接触电阻。本方法的主要特点是简单方便,是一种薄层材料方块电阻和电极接触电阻的无损检测方法,对电极分布没有严格要求。

著录项

  • 公开/公告号CN105203847B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-10-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院上海硅酸盐研究所;

    申请/专利号CN201510638371.7

  • 发明设计人 张步法;

    申请日2015-09-29

  • 分类号G01R27/02(20060101);

  • 代理机构31261 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人曹芳玲;姚佳雯

  • 地址 200050 上海市长宁区定西路1295号

  • 入库时间 2022-08-23 10:17:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-10-02

    授权

    授权

  • 2016-01-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R27/02 申请日:20150929

    实质审查的生效

  • 2016-01-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 27/02 申请日:20150929

    实质审查的生效

  • 2015-12-30

    公开

    公开

  • 2015-12-30

    公开

    公开

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