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FLASH芯片及应对FLASH芯片异常掉电的擦除或编程方法

摘要

本发明涉及存储器技术领域,尤其涉及一种FLASH芯片及应对FLASH芯片异常掉电的擦除或编程的方法;其中,所述应对FLASH芯片异常掉电的擦除或编程方法包括:读取FLASH芯片中掉电保护单元;当掉电保护单元存储有地址信息时,获取地址信息;地址信息为FLASH芯片在擦除过程中异常掉电时,掉电保护单元记录的当前擦除区域的地址信息;根据地址信息,对地址信息对应的存储阵列中区域进行过擦除修正;以及当过擦除修正完成后,对FLASH芯片进行擦除或编程。本发明提供的方法,利用掉电保护单元记录的地址信息,在FLASH芯片异常掉电后再次进行擦除或编程时,对地址信息所对应区域中存储单元进行过擦除修正,减少了存储阵列中较大漏电流存储单元的数量,提高FLASH芯片的可靠性。

著录项

  • 公开/公告号CN104751885B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-09-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京兆易创新科技股份有限公司;

    申请/专利号CN201310744405.1

  • 发明设计人 胡洪;洪杰;王林凯;

    申请日2013-12-30

  • 分类号G11C16/10(20060101);G11C16/14(20060101);

  • 代理机构11332 北京品源专利代理有限公司;

  • 代理人胡彬

  • 地址 100083 北京市海淀区学院路30号科大天工大厦A座12层

  • 入库时间 2022-08-23 10:16:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-09-07

    授权

    授权

  • 2015-07-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G11C16/10 申请日:20131230

    实质审查的生效

  • 2015-07-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G11C 16/10 申请日:20131230

    实质审查的生效

  • 2015-07-01

    公开

    公开

  • 2015-07-01

    公开

    公开

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