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保护制造中半导体晶片的外围的方法以及相关制造中晶片及系统

摘要

举例来说,处理半导体晶片的方法可涉及将下列项囊封在囊封材料中:半导体材料的晶片的有效表面及每一侧表面;定位在所述晶片的所述有效表面上的多个半导体装置;定位在所述晶片的背侧表面上的粘合材料的经暴露侧表面;及通过所述粘合材料紧固到所述晶片的载体衬底的侧表面的至少一部分。可通过移除所述囊封材料的至少一部分而暴露所述粘合材料的所述侧表面的至少一部分。可使所述载体衬底从所述晶片卸离。还揭示处理系统及制造中半导体晶片。

著录项

  • 公开/公告号CN106796879B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-08-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 美光科技公司;

    申请/专利号CN201580053954.1

  • 发明设计人 卫·周;爱斌·俞;朝辉·马;

    申请日2015-09-04

  • 分类号

  • 代理机构北京律盟知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人路勇

  • 地址 美国爱达荷州

  • 入库时间 2022-08-23 10:15:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-08-07

    授权

    授权

  • 2017-06-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/306 申请日:20150904

    实质审查的生效

  • 2017-05-31

    公开

    公开

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