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TSV通孔的制作工艺方法及多种孔深的盲孔或TSV通孔的制作工艺方法

摘要

本发明提供一种TSV通孔的制作工艺方法,包括下述步骤:提供一晶圆,在晶圆表面沉积阻挡层;在晶圆表面进行光刻和刻蚀工艺,对阻挡层移除部分不做TSV的区域,使TSV区域处形成阻挡层凸点;通过光刻和刻蚀工艺,使得晶圆表面形成有RDL线槽的形貌;在晶圆表面沉积绝缘层;在晶圆表面绝缘层上制作金属层,在RDL线槽中形成金属RDL;在晶圆表面金属层上面沉积保护层;对晶圆表面进行CMP研磨,去除阻挡层凸点上方的保护层、金属层和绝缘层;对晶圆表面TSV区域剩余的阻挡层凸点材料进行移除,露出晶圆材质;对晶圆表面进行干法刻蚀工艺,使得露出晶圆材质的TSV区域被刻蚀形成盲孔;对晶圆背面进行减薄工艺,使得盲孔底部打开,形成TSV通孔。

著录项

  • 公开/公告号CN105428309B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-07-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201510940285.1

  • 发明设计人 冯光建;

    申请日2015-12-16

  • 分类号

  • 代理机构无锡市大为专利商标事务所(普通合伙);

  • 代理人曹祖良

  • 地址 214135 江苏省无锡市新区菱湖大道200号中国传感网国际创新园D1栋

  • 入库时间 2022-08-23 10:13:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-07-06

    授权

    授权

  • 2016-04-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/768 申请日:20151216

    实质审查的生效

  • 2016-03-23

    公开

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