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地下洞室三维空间精细测量系统

摘要

本发明公开了属于地下空间测量技术领域的一种地下洞室三维空间精细测量系统。该测量系统包括导轨支架装置、激光扫描传感器,导轨运动控制装置,供电装置,主控计算机,无线接入点和平板电脑;水平主梁放在导轨支架装置上,限位开关、步进电机、定位靶标固定在水平主梁上,激光扫描传感器固定在激光扫描传感器适配器上并与滑块固定;导轨运动控制装置,提供测量系统的精确定位;激光扫描传感器利用飞行时原理对三维空间的断面轮廓进行精细扫描,并实时返回断面轮廓的距离信息,角度信息和强度信息;主控计算机控制导轨运动控制装置和激光扫描传感器完成基于断面测量的三维空间精细测量;本发明为主动非接触测量,测量点云密度大且空间分布均匀,内业外业可同时进行,节约测量时间,同时定位精度可达1~3mm。

著录项

  • 公开/公告号CN104792261B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-05-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN201510170255.7

  • 发明设计人 段云岭;吕小宁;冯金铭;乔楠;

    申请日2015-04-10

  • 分类号

  • 代理机构北京众合诚成知识产权代理有限公司;

  • 代理人张文宝

  • 地址 100084 北京市海淀区北京100084-82信箱

  • 入库时间 2022-08-23 10:11:26

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-05-29

    授权

    授权

  • 2015-08-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/00 申请日:20150410

    实质审查的生效

  • 2015-07-22

    公开

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