首页> 中国专利> 一种对保偏光纤缺陷点测量中的伪干涉峰鉴别方法

一种对保偏光纤缺陷点测量中的伪干涉峰鉴别方法

摘要

本发明提供的是一种对保偏光纤缺陷点测量中的伪干涉峰鉴别方法。通过改变待测光纤与起偏器/检偏器之间的对轴角度,分别实现对干涉信号中不同特征干涉峰的抑制和放大;不同对轴角度条件下,将测量干涉峰与预测干涉峰位置‑幅值的理论公式进行比对,得到干涉信号中的特征干涉峰的幅值、阶次等信息;通过4次不同对轴角度测量,即可鉴别出其中的伪干涉峰和代表真实缺陷点的干涉峰。本发明中的操作方法简单有效,有助于从分布式干涉测量中准确地估计保偏光纤缺陷点信息,可以广泛应用于保偏光纤中缺陷点的精确测量。

著录项

  • 公开/公告号CN105823620B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-04-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工程大学;

    申请/专利号CN201610152972.1

  • 申请日2016-03-17

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区南通大街145号哈尔滨工程大学科技处知识产权办公室

  • 入库时间 2022-08-23 10:10:04

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-04-17

    授权

    授权

  • 2016-08-31

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M11/00 申请日:20160317

    实质审查的生效

  • 2016-08-03

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号