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一种基于差分与卷积核的线采样高光谱数据目标探测方法

摘要

本发明公开了一种基于差分与卷积核的线采样高光谱数据目标探测方法,其步骤如下:一、高光谱数据预处理,去除水分波段并进行去均值化处理;二、选择合适的步长对数据进行线采样,进行差分运算与卷积运算获得衡量采样长方体的特征值;三、选用合适的阈值特征值进行处理,超过阈值的区域即包含目标点;四、重复步骤二和三,直至遍历整个长方体数据集,找到目标点行位置信息;五、对步骤一得到的高光谱数据在图像维转置,重复步骤二至四直至遍历整个长方体数据集,找到目标点列位置信息,从而定位目标点在图像中的位置信息。该方法原理清楚,结构清晰,计算开销小,时间复杂性低,探测辨识率高,适用于单一背景下高光谱图像快速目标探测与定位应用。

著录项

  • 公开/公告号CN105571716B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-03-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学;

    申请/专利号CN201510969368.3

  • 发明设计人 张淼;沈飞;贾培源;沈毅;

    申请日2015-12-22

  • 分类号

  • 代理机构哈尔滨龙科专利代理有限公司;

  • 代理人高媛

  • 地址 150000 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

  • 入库时间 2022-08-23 10:09:26

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-03-30

    授权

    授权

  • 2016-06-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J3/28 申请日:20151222

    实质审查的生效

  • 2016-05-11

    公开

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