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NMOS器件的硅衬底表面的处理方法及NMOS器件的制作方法

摘要

本发明揭示了一种NMOS器件的硅衬底表面的处理方法及NMOS器件的制作方法,在硅衬底上形成凹槽后经清洗将凹槽表面氧化,然后将凹槽氧化物去除,以露出硅衬底表面。然后在经过上述处理步骤之后的硅衬底上生长碳化硅,用于形成源极和漏极,以制作NMOS器件。本发明的制作的硅衬底具有表面清洁度高、粗糙度低的优点,采用本发明的硅衬底制作的NMOS器件具有较佳的电学性能。

著录项

  • 公开/公告号CN104392919B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-03-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华力微电子有限公司;

    申请/专利号CN201410664725.0

  • 发明设计人 肖天金;

    申请日2014-11-19

  • 分类号H01L21/308(20060101);H01L21/336(20060101);

  • 代理机构31237 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人王宏婧

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江开发区高斯路568号

  • 入库时间 2022-08-23 10:09:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-03-30

    授权

    授权

  • 2015-04-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/308 申请日:20141119

    实质审查的生效

  • 2015-03-04

    公开

    公开

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