用于集成电路设计的测量电路和方法

摘要

本发明公开了一种用于集成电路设计的测量电路和方法。其中，该用于集成电路设计的测量电路包括：熔丝；第一测量电路，与所述熔丝相连接，包括第一测量端，所述第一测量端用于向所述第一测量电路加电压以测量所述第一测量电路的电阻值；以及第二测量电路，所述第二测量电路与所述第一测量电路的电阻值相同，包括第二测量端，所述第二测量端用于向第二测量电路加电压以测量所述第二测量电路的电阻值。通过本发明，解决了现有技术中无法准确测量IP核级的熔丝的电阻值的问题，进而达到了准确测量IP核级的熔丝的电阻值的效果。