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一种基于激光跟踪仪的机床空间精度全方位测量方法

摘要

一种基于激光跟踪仪的机床空间精度全方位测量方法,先将靶镜与激光跟踪仪对好光,然后将靶镜吸附在转台装置上端十字滑台中心处,控制转台装置旋转,使激光跟踪仪激光束与靶镜端面尽可能垂直,然后调节十字滑台,使靶镜中心与转台装置回转中心的位置重合,再从第一基站处向下一个基站方向移动激光跟踪仪,然后控制转台装置旋转,调节完成后基站处的测量,重复完成整个测量过程,实现单台激光跟踪仪在机床四周任意方位的快速低成本测量,本发明方法可以在靶镜周边任意方位设立基站,更精确更快速的实现精度测量。

著录项

  • 公开/公告号CN105698682B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-03-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安交通大学;

    申请/专利号CN201610158499.8

  • 申请日2016-03-18

  • 分类号

  • 代理机构西安智大知识产权代理事务所;

  • 代理人贺建斌

  • 地址 710049 陕西省西安市咸宁路28号

  • 入库时间 2022-08-23 10:08:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-03-16

    授权

    授权

  • 2016-07-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/00 申请日:20160318

    实质审查的生效

  • 2016-06-22

    公开

    公开

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