首页> 中国专利> 一种测量不完整孔的光面塞规及其设计方法

一种测量不完整孔的光面塞规及其设计方法

摘要

本发明提供了一种测量不完整孔的光面塞规及其设计方法,所述的光面塞规,包括塞规本体;所述的塞规本体是由一端定位部、中间测量部和另一端手持部组成的台阶式圆柱形结构;所述的测量部包括通端和止端,通端和止端分别为小半圆柱面结构与大半圆柱面结构,且通端和止端同心设置,通端的半径大于定位部的半径。该塞规的尺寸计算简单、易懂,结构简单,制造容易,使用方便。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-01-03

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01B3/50 变更前: 变更后: 申请日:20151021

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2018-01-09

    授权

    授权

  • 2016-02-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B3/50 申请日:20151021

    实质审查的生效

  • 2016-01-06

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号