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标记和检测石墨烯层中的缺陷的方法和系统

摘要

荧光团或其他指示剂可用于通过定位在一个或多个缺陷处并且不定位在石墨烯层的其他区域,标记和鉴定石墨烯层中的一个或多个缺陷。具有至少部分被石墨烯层覆盖的表面的衬底可接触荧光团,使得荧光团选择性结合由一个或多个缺陷暴露的下部衬底表面的一个或多个区域。可通过使衬底暴露于辐射而鉴定一个或多个缺陷。检测到的荧光团对辐射的荧光响应鉴定一个或多个缺陷。

著录项

  • 公开/公告号CN105122044B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-01-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 英派尔科技开发有限公司;

    申请/专利号CN201380075719.5

  • 发明设计人 T·A·耶格尔;S·A·米勒;

    申请日2013-04-18

  • 分类号

  • 代理机构北京市铸成律师事务所;

  • 代理人孟锐

  • 地址 美国特拉华州

  • 入库时间 2022-08-23 10:05:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-01-02

    授权

    授权

  • 2015-12-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/91 申请日:20130418

    实质审查的生效

  • 2015-12-02

    公开

    公开

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