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用于形成窄垂直柱的方法及具有窄垂直柱的集成电路装置

摘要

在一些实施例中,一种集成电路包含填充形成于所述集成电路中的开口的窄垂直延伸柱。在一些实施例中,所述开口可含有用以形成相变存储器单元的相变材料。由所述柱占据的所述开口可使用在不同垂直层级上形成的例如间隔物的交叉牺牲材料线来界定。所述材料线可通过允许形成极细线的沉积工艺来形成。所述线的相交点处的所暴露材料经选择性地移除以形成所述开口,所述开口具有由所述线的宽度确定的尺寸。举例来说,所述开口可填充有相变材料。

著录项

  • 公开/公告号CN104798201B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-01-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 美光科技公司;

    申请/专利号CN201380060739.5

  • 发明设计人 刘峻;库诺·派瑞克;

    申请日2013-11-07

  • 分类号

  • 代理机构北京律盟知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人路勇

  • 地址 美国爱达荷州

  • 入库时间 2022-08-23 10:05:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-01-02

    授权

    授权

  • 2015-08-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L27/115 申请日:20131107

    实质审查的生效

  • 2015-07-22

    公开

    公开

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